以下是大行程三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的選型指南：1.明確測(cè)量需求-行程范圍：根據(jù)被測(cè)工件的最大尺寸來選擇。要考慮工件整體能否放置于測(cè)量機(jī)內(nèi)正常測(cè)量，還需預(yù)留足夠的測(cè)量空間，同時(shí)對(duì)于固定式測(cè)頭，要根據(jù)測(cè)量要求加上其星形探針組各向探針及接長(zhǎng)桿長(zhǎng)度。-精度要...

在當(dāng)今這個(gè)追求精度與效率的時(shí)代，光學(xué)三維表面輪廓儀作為一種先進(jìn)的計(jì)量?jī)x器，正以其**的技術(shù)優(yōu)勢(shì)和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域，促進(jìn)著精密測(cè)量領(lǐng)域的新潮流。其中，SuperViewW1光學(xué)三維表面輪廓儀以其優(yōu)秀的性能和全面的功能，成為眾多科研機(jī)構(gòu)、工業(yè)企業(yè)...

激光跟蹤儀的檢測(cè)功能及應(yīng)用實(shí)例如下：1、檢測(cè)功能-三維坐標(biāo)測(cè)量：能精確測(cè)量目標(biāo)點(diǎn)的三維坐標(biāo)，確定物體在空間中的位置和姿態(tài)，為后續(xù)的尺寸測(cè)量、形位公差檢測(cè)等提供基礎(chǔ)數(shù)據(jù)。-尺寸測(cè)量：可測(cè)量物體的長(zhǎng)度、寬度、高度、直徑等尺寸參數(shù)，通過測(cè)量物體上...

SEM是掃描電鏡，英文全稱為ScanningElectronMicroscope。以下是關(guān)于掃描電鏡的一些基本信息：1、工作原理掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面，通過檢測(cè)電子與樣品相互作用產(chǎn)生的各種信號(hào)來獲取樣品表面微觀結(jié)構(gòu)信息的電子顯...

閃測(cè)儀和2.5次元影像測(cè)量?jī)x有以下區(qū)別：1、測(cè)量原理-閃測(cè)儀：運(yùn)用新型的圖像影像測(cè)量技術(shù)，通過大視野大景深、高數(shù)值孔徑、低畸變雙遠(yuǎn)心鏡頭，將被測(cè)物體的影像輪廓縮小后傳遞到高像素相機(jī)上做數(shù)字化處理，再由后臺(tái)繪圖測(cè)量軟件按照編程指令，快速抓取產(chǎn)...

隨著科技的日新月異，材料科學(xué)領(lǐng)域正蓬勃發(fā)展，而金屬材料作為工業(yè)生產(chǎn)和科技創(chuàng)新的重要基石，其研究與應(yīng)用更是備受矚目。在這個(gè)微觀決定宏觀的時(shí)代，高性能掃描電鏡(SEM)成為了探索金屬材料微觀世界的得力助手。其中，CEM3000系列臺(tái)式掃描電鏡憑...