W1光學(xué)輪廓儀是通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，分辨率0.1μm，重復(fù)性0.1%，應(yīng)用領(lǐng)域廣泛，操作簡便，可自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數(shù)。專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。

3d光學(xué)輪廓測量儀可自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數(shù)，能達(dá)到微型范圍內(nèi)重點部位的納米級粗糙度、輪廓等參數(shù)的測量。廣泛應(yīng)用于如納米材料、航空航天、半導(dǎo)體等各類精密工件表面質(zhì)量要求高的領(lǐng)域中。

SuperViewW1光學(xué)輪廓儀器廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測量。具有測量精度高、功能全面、操作便捷、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點，測量單個精密器件的過程用時2分鐘以內(nèi)，確保了高款率檢測。

SuperViewW1光學(xué)表面輪廓測量儀對產(chǎn)品進(jìn)行高品質(zhì)監(jiān)控時不需要取下產(chǎn)品或停止生產(chǎn)，而且采用的是非接觸式光學(xué)測量，在獲得實時數(shù)據(jù)的同時，不會對產(chǎn)品造成任何損傷，從而有效節(jié)約了生產(chǎn)成本，提高了生產(chǎn)效率，并且在線檢測，沒有滯后性，從而減少不合格品，對表面缺陷檢測亦如此。

SuperViewW1表面光學(xué)輪廓儀在微電子、微機(jī)械、微光學(xué)等領(lǐng)域，表面光學(xué)輪廓儀可以提供更高精度的檢測需求。還可以用自動多區(qū)域測量功能，在樣品表面抽取多個測量區(qū)域進(jìn)行測量，從而對樣品進(jìn)行評估分析。可以提供更高精度的檢測需求。

隨著白光干涉測量技術(shù)的發(fā)展和完善，白光干涉儀已經(jīng)得到了廣泛的應(yīng)用。在微電子、微機(jī)械、微光學(xué)等領(lǐng)域，中圖的光學(xué)式表面粗糙度輪廓儀可以提供更高精度的檢測需求。