高精度多功能光柵測長儀

中圖儀器SJ5100高精度多功能光柵測長儀利用光柵原理，將光柵分成許多微小的條紋，通過測量光柵上的條紋數(shù)來確定被測物體的長度或位移。該產品具有精度高、操作便攜、穩(wěn)定性強、功能齊全實用等優(yōu)點，能夠測量及檢定精密量具、精密量規(guī)，如塊規(guī)、環(huán)塞規(guī)、卡規(guī)、螺紋規(guī)、花鍵規(guī)、表類、尺類。還可以檢測各種精密工件內外尺寸，如齒輪、花鍵、校對棒、非標量規(guī)等，具有通用性強的特點。

典型應用

應用案例

機械制造：在機械制造過程中，可以用來測量各種零件的尺寸和形狀，以確保產品的質量和精度。

半導體制造：在半導體制造行業(yè)中，可以用來測量芯片線寬和間距等微小尺寸參數(shù)。

光學加工：在光學加工領域中，可以用來測量光學元件的表面形貌和厚度等參數(shù)。

航空航天：在航空航天領域中，可以用來測量航空器的外形和尺寸，以及檢測零部件之間的配合精度。

SJ5100高精度多功能光柵測長儀利用光柵原理，將光柵分成許多微小的條紋，通過測量光柵上的條紋數(shù)來確定被測物體的長度或位移。該產品具有精度高、操作便攜、穩(wěn)定性強、功能齊全實用等優(yōu)點，能夠測量及檢定精密量具、精密量規(guī)，如塊規(guī)、環(huán)塞規(guī)、卡規(guī)、螺紋規(guī)、花鍵規(guī)、表類、尺類。采用高精度光柵式大量程接觸式測量方式，整個測量過程不超過3分鐘，結束后自動生成結果及記錄報表。

儀器主要功能

1、標配功能：

檢測量塊&塊規(guī)：（0.1~300mm）；

光滑環(huán)規(guī)：φ5~φ200mm（壁厚≤50 mm，高度≤50mm）、光滑塞規(guī)：φ1~φ220mm；

螺紋環(huán)規(guī)：M5~M200（螺距0.8~4mm）

螺紋塞規(guī)：M1~M220（螺距0.25~5.5mm）；

光滑卡規(guī)：內卡5~200mm，外卡1~300mm

千分尺校對桿：25~300mm；

塞尺：0.02~1mm

針規(guī)：φ0.1~φ10mm

三針：0.118~6.585mm；

兩點內徑千分尺：25~300mm；

2、可選配功能：

小型光滑環(huán)規(guī)：φ0.8~φ5mm；

螺紋環(huán)規(guī)：規(guī)格M3~M4（螺距0.5~0.7mm）；

光滑錐度環(huán)規(guī)：φ5~φ200mm（厚度≤50mm）；

光滑錐度塞規(guī)：φ5~φ60mm（長度10~100mm）；φ60~φ200mm（長度≤50mm）；

螺紋錐度環(huán)規(guī)：M5~M200mm（厚度≤50mm）；

螺紋錐度塞規(guī)：M5~M60mm（長度10~100mm）；M60~M200mm（長度≤50mm）；

鋸齒螺紋、梯形螺紋：M3~M400（螺距0.5~6mm）；

花鍵環(huán)塞規(guī)/花鍵及標準齒輪（跨棒距測量）：內φ10~φ200mm，外φ5~φ200mm，模數(shù)0.8~6mm；

外徑千分尺示值誤差手動校準：25~300mm；

數(shù)顯及游標卡尺示值誤差手動校準：75~300mm；

深度千分尺示值誤差手動校準：0~25、25~50、50~75mm；

三爪內徑千分尺手動校準：φ6~φ200mm；

表類（百分表、千分表、杠桿表手動校準）；

數(shù)顯半徑規(guī)手動校準：R5~R700mm；

軸承內外圈錐度、溝槽底徑內外徑及溝槽寬度、精密零部件的長度尺寸，內外徑尺寸測量；

SJ5100系列高精度光柵測長機采用進口高精度長玻璃光柵尺作為長度方向定位，可進行高精度全行程直接測量。配置高性能環(huán)規(guī)內測裝置，可測量小M3螺紋環(huán)規(guī)（根據(jù)選配測針），同時可完成小（φ0.8mm）光滑環(huán)規(guī)檢測（選配測針）；測量力為電子測力0.05N、0.1N、0.3N、0.5N，由軟件選擇測力大小（可根據(jù)客戶需求定制更小測力）。

主要技術指標

環(huán)境條件

參考校準/使用環(huán)境溫濕度：

溫度：20±2℃，波動不超過0.5℃/小時

相對濕度：10~70%。

振動：按照三坐標振動要求標準，振動速度均方根≤5um/s，振動頻率8~100Hz；

校準室內應無影響測量的灰塵、震動、噪音、氣流、腐蝕性氣體和較強磁場。

懇請注意：因市場發(fā)展和產品開發(fā)的需要，本產品資料中有關內容可能會根據(jù)實際情況隨時更新或修改，恕不另行通知，不便之處敬請諒解。

如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。