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        白光干涉非接觸式粗糙度儀

        簡要描述:中圖儀器SuperViewW白光干涉非接觸式粗糙度儀基于白光干涉原理,結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像。以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。

        • 廠商性質:生產廠家
        • 更新時間:2025-03-09
        • 訪  問  量:1121

        詳細介紹

        品牌中圖儀器產地國產
        加工定制

        中圖儀器SuperViewW白光干涉非接觸式粗糙度儀基于白光干涉原理,結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像。以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸,典型結果包括:

        表面形貌(粗糙度,平面度,平行度,臺階高度,錐角等等);

        幾何特征(關鍵孔徑尺寸,曲率半徑,特征區(qū)域的面積和體積,特征圖形的位置和數量等等)。

        白光干涉非接觸式粗糙度儀

        白光干涉非接觸式粗糙度儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。


        產品功能

        (1)設備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能;

        (2)測量中提供自動對焦、自動找條紋、自動調亮度等自動化輔助功能;

        (3)測量中提供自動拼接測量、定位自動多區(qū)域測量功能;

        (4)分析中提供校平、圖像修描、去噪和濾波、區(qū)域提取等四大模塊的數據處理功能;

        (5)分析中提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結構分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能;

        (6)分析中同時提供一鍵分析和多文件分析等輔助分析功能。

        白光干涉非接觸式粗糙度儀

        應用領域

        對各種產品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。

        應用范例:

        白光干涉非接觸式粗糙度儀


        粗糙度應用案例

        白光干涉非接觸式粗糙度儀

        薄膜粗糙度測量

        白光干涉非接觸式粗糙度儀

        藍寶石粗糙度測量

        白光干涉非接觸式粗糙度儀

        晶圓IC減薄后的粗糙度檢測


        性能特色

        1、高精度、高重復性

        1)采用光學干涉技術、精密Z向掃描模塊和3D重建算法組成測量系統(tǒng),保證測量精度高;

        2)隔振系統(tǒng),能夠有效隔離頻率2Hz以上絕大部分振動,消除地面振動噪聲和空氣中聲波振動噪聲,保障儀器在大部分的生產車間環(huán)境中能穩(wěn)定使用,獲得高測量重復性;

        2、環(huán)境噪聲檢測功能

        具備的環(huán)境噪聲檢測模塊能夠定量評估出外界環(huán)境對儀器掃描軸的震動干擾,在設備調試、日常監(jiān)測、故障排查中能夠提供定量的環(huán)境噪聲數據作為支撐。

        3、精密操縱手柄

        集成X、Y、Z三個方向位移調整功能的操縱手柄,可快速完成載物臺平移、Z向聚焦、找條紋等測量前工作。

        4、雙重防撞保護措施

        在初級的軟件ZSTOP設置Z向位移下限位進行防撞保護外,另在Z軸上設計有機械電子傳感器,當鏡頭觸碰到樣品表面時,儀器自動進入緊急停止狀態(tài),最大限度的保護儀器,降低人為操作風險。

        5、雙通道氣浮隔振系統(tǒng)

        既可以接入客戶現(xiàn)場的穩(wěn)定氣源也可以接入標配空壓機,在無外接氣源的條件下也可穩(wěn)定工作。


        部分技術指標

        型號

        W1

        光源白光LED
        影像系統(tǒng)1024×1024
        干涉物鏡

        標配:10×

        選配:2.5×、5×、20×、50×、100×

        光學ZOOM

        標配:0.5×

        選配:0.375×、0.75×、1×

        標準視場0.98×0.98㎜(10×物鏡,光學ZOOM 0.5×)


        XY位移平臺

        尺寸
        320×200㎜
        移動范圍140×100㎜
        負載10kg
        控制方式電動
        Z軸聚焦行程100㎜
        控制方式電動
        臺階測量
        可測樣品反射率0.05%~100
        主機尺寸700×606×920㎜
        懇請注意:因市場發(fā)展和產品開發(fā)的需要,本產品資料中有關內容可能會根據實際情況隨時更新或修改,恕不另行通知,不便之處敬請諒解。

        如有疑問或需要更多詳細信息,請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。



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