掃描電鏡是用來測什么的？

掃描電鏡是一種用于對樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測和分析的儀器。它能夠提供高分辨率的圖像，幫助科學(xué)家和工程師了解樣品的微觀結(jié)構(gòu)和特性。

一、掃描電鏡的一般測量功能

1. 微觀形貌觀測

掃描電鏡可以清晰地觀察到樣品表面的微觀形貌，如顆粒的形狀、大小、分布等。它能夠分辨出納米尺度的特征，對于研究材料的微觀結(jié)構(gòu)變化、表面粗糙度等方面具有重要意義。

例如在材料科學(xué)領(lǐng)域，通過掃描電鏡可以觀察到金屬材料的晶粒結(jié)構(gòu)、陶瓷材料的孔隙結(jié)構(gòu)以及高分子材料的相分離情況等。

2. 元素分析

一些掃描電鏡配備了能譜儀等附件，可以對樣品表面進(jìn)行元素分析。它能夠確定樣品中所含元素的種類和相對含量，有助于了解材料的化學(xué)成分和組成。

二、CEM3000臺式掃描電鏡的特點(diǎn)

1. 緊湊的外型與良好的空間適用性

CEM3000系列臺式掃描電鏡整機(jī)經(jīng)過深入優(yōu)化，具有緊湊的外型。它無需占據(jù)大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng)，甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實(shí)時呈現(xiàn)所得結(jié)果。

它還可以進(jìn)入手套箱、車廂還是潛水器等狹小空間內(nèi)大顯身手。這種良好的空間適用性使得它在不同的工作環(huán)境中都能方便使用。

2. 高分辨率

CEM3000系列電鏡具有出色的電子光學(xué)系統(tǒng)，優(yōu)于4nm的空間分辨率（SE），保證了高放大倍數(shù)下的清晰成像，能夠滿足納米尺度的形貌觀測需求。無論是觀察納米材料的微觀結(jié)構(gòu)，還是對微小生物樣本進(jìn)行研究，都能提供清晰準(zhǔn)確的圖像。

3. 快速抽放氣與可選配低真空系統(tǒng)

該系列臺式電鏡采用了快速抽放氣設(shè)計(jì)，縮短了用戶抽放氣的等待時間。同時，全系列可選配低真空系統(tǒng)，用戶可以任意設(shè)定電鏡工作時的倉內(nèi)真空度（倉內(nèi)真空度可達(dá)100Pa），以滿足不同類型樣品的觀測需求。例如，對于一些易揮發(fā)或?qū)φ婵窄h(huán)境要求不高的樣品，可以通過調(diào)節(jié)低真空系統(tǒng)來更好地進(jìn)行觀測。

4. 高易用性

CEM3000系列臺式掃描電鏡操作簡便，具有自動調(diào)節(jié)功能。用戶可借助自動調(diào)節(jié)功能，無需過多人工調(diào)節(jié)，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。樣品一鍵裝入，自動導(dǎo)航和一鍵出圖能力（自動聚焦+自動消像散+自動亮度對比度）幫助用戶在短短幾十秒內(nèi)就可獲取高清圖像，大大提升了使用效率。

5. 大樣品倉（CEM3000A）與高抗振防磁性能

CEM3000A在保證較小外型尺寸同時，具有比肩立式電鏡的大倉室，從而容納更大尺寸樣品。這對于一些需要分析大尺寸樣品或多個常規(guī)尺寸樣品的用戶來說非常方便。

全系列電鏡均具有優(yōu)秀的抗干擾能力，特別是CEM3000B使用本公司技術(shù)，基于復(fù)合抗振手段，將掃描電鏡抗振性能提升到了新的高度。無論是在高樓的實(shí)驗(yàn)室，還是有一定振動的生產(chǎn)車間等非常規(guī)電鏡使用環(huán)境，CEM3000系列臺式電鏡都可憑借其強(qiáng)大的抗振性能輕松應(yīng)對，大展身手。

6. 多種探頭搭配與豐富的定制功能

該系列電鏡標(biāo)配高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭，并且可選配能譜儀等探頭，能夠?qū)悠愤M(jìn)行多種手段的分析。同時，根據(jù)特定行業(yè)的需求，定制了自動化的顆粒度統(tǒng)計(jì)、孔隙率測量等選配功能，還可根據(jù)用戶需求提供全自動軟件定制服務(wù)，滿足不同用戶的多樣化需求。

CEM3000系列臺式掃描電鏡在微觀形貌觀測和元素分析等方面具有出色的性能，同時其緊湊的外型、良好的空間適用性、高易用性等特點(diǎn)使其在眾多領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用前景。